자유 공간 측정 시스템
재료의 전기적 성질(복소수 유전율 및 투자율)을 측정하는 방법은 주파수, 시료의 종류, 측정 환경에 따라 적합한 측정 방법이 있습니다. 그 가운데 자유 공간 측정 방법은 안테나를 이용한 비접촉 , 비파괴 방식으로 마이크로파 및 밀리미터파 주파수 대역의 광대역 측정에 이상적인 방법입니다.
PCZ-FSMSMC-21R1
제품 소개
PCZ-FSMSMC-21R1는 재료의 복소수 유전율 및 투자율을 측정합니다. 안테나 및 벡터 네트워크 분석기를 이용하여 측정 샘플의 S-파라미터 값을 측정하고 이 값을 소프트웨어(Keysight N1500A)로 연산을 수행하여 결과값을 도출합니다. 측정 샘플은 넓고 평평한 형태가 적합하며, 초고온 퍼니스와 결합하여 사용하여 고온 환경(1500°C)에서도 측정 가능합니다.
제품 특징
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재질의 주파수에 따른 유전율 및 투자율 측정
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바이스태틱 및 사선 입사 측정 (2-port 측정)
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평판 형태의 샘플에 적합
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초고온 측정 챔버 사용 (선택 사항)
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Keysight N1500A 프로그램 사용
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광대역 측정 (X-band 안테나 : 8.2GHz ~ 12.4GHz)
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안테나 위치 미세 조정
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안테나 고정 장치 회전 가능(수직편파 / 수평편파)
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회전과 높낮이 조절이 가능한 샘플 홀더
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안테나 초점 특성 변경 가능 (선택 사항)
Keysight N1500A
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자유 공간 측정 방식 지원 ( Opt. 001 )
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측정 모델 선택 가능 ( 9가지 )
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Sample thickness 제안 기능
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GRL Calibration 사용 (신속 및 정확한 측정 가능)
PICOZEN 은 Keysight 공식 파트너사입니다.
PCZ-VFSMS-20R1
제품 소개
PICOZEN의 수직 자유 공간 측정 시스템 (FSMS)은 초고주파 대역(UFH) 안테나와 테스트 샘플 (MUT)을 고정 할 수 있는 테스트 지그로 구성됩니다. 특히 UHF-VFSMS-20R1는 Vertical 타입으로 UHF 안테나와 흡수체를 포함한 사용자 측정 환경을 제공함으로써 UHF 대역에서 최적의 신뢰성 있는 측정값을 얻을 수 있습니다.
제품 특징
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광대역 측정 (UHF 대역 : 0.6GHz ~ 3GHz)
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좁은 빔폭
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안테나와 샘플(MUT) 간 거리 조절 가능
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이동하기 쉬운 편리성
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모노스태틱 반사 측정 (S11 측정)
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구조물의 반사 최소화 (전자파 흡수체 사용)
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최적의 디자인으로 경량화 적용
PCZ-UFMS-20R1
제품 소개
PCZ-UFMS-20R1은 바이스태틱 자유 공간 측정 장비와 함께 사용할 목적으로 제작된 장비이며, 측정 샘플의 고온 환경 (1500°C)을 구현하여 재료의 고온 성질을 측정할 수 있습니다. 이 장비의 디자인은 다음의 두 가지 중요한 기술적인 요건을 중심으로 제작되었습니다.
- 내부의 고온 환경이 외부의 측정 장비에 영향을 최소화 시키는 구조
- 전자파 영향이 최소화되는 고온 재질 적용
제품 특징
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PCZ-FSMSMC-21R1 결합 사용
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사용온도 : 1500℃ (Max. 1600℃)
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입력전원 : 220VAC, 60Hz
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이동하기 쉬운 편리성
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내부 구조 : 낮은 유전율을 갖는 세라믹 섬유 보드
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몰리브덴 발열체 사용(MoSi2)
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내부 샘플 크기[mm] : 250 x 250 x 20(WxHxT)